華測(cè)儀器 HCCT-40H 多通道電容器溫度特性評(píng)價(jià)系統(tǒng)，面向多種電容器溫度特性測(cè)試場(chǎng)景而設(shè)計(jì)，可適配多種規(guī)格型號(hào)、不同通道數(shù)量的被測(cè)樣品，支持定制專屬電容測(cè)試線纜，匹配不同樣品封裝、排布與安裝工況，滿足多樣化樣品接入需求。

設(shè)備標(biāo)配 64/80/128 通道，硬件架構(gòu)支持靈活擴(kuò)展，可拓展至 256 通道，可實(shí)現(xiàn)多路樣品同步并行測(cè)試，擺脫傳統(tǒng)單通道依次測(cè)試的效率問(wèn)題，大幅優(yōu)化研發(fā)驗(yàn)證、可靠性老化試驗(yàn)的整體試驗(yàn)效率。系統(tǒng)支持被測(cè)器件全部陣元的批量自動(dòng)化檢測(cè)，單款被測(cè)樣品掃描時(shí)長(zhǎng)不超過(guò) 1 分鐘；采用設(shè)備端逐通道自動(dòng)巡檢機(jī)制，無(wú)需人工手動(dòng)切換陣元通道，減少人為操作介入，減少人工切換帶來(lái)的操作誤差，優(yōu)化測(cè)試一致性。

電容測(cè)量覆蓋 1pF~1μF，測(cè)試頻率固定 1kHz，測(cè)量參數(shù)貼合電容器溫度特性評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)要求。設(shè)備兼顧實(shí)驗(yàn)室研發(fā)驗(yàn)證、樣品測(cè)試以及產(chǎn)線批量篩查等多元化測(cè)試場(chǎng)景，既可用于新材料、新型電容器件的前期研發(fā)性能評(píng)估，也可用于大批量樣品可靠性考核、溫度環(huán)境下電容參數(shù)變化規(guī)律監(jiān)測(cè)，為電容器產(chǎn)品迭代、質(zhì)量管控提供溫度可靠的數(shù)據(jù)支撐。