筑牢電氣檢測防線：華測儀器推出高壓漏電起痕測試設備

HC-RD-1100 塞貝克系數(shù)電阻測試儀，是為熱電材料性能表征研發(fā)而設計，為功能材料熱電性能測試提供解決方案。

一、雙參數(shù)同步測試，減少裝夾誤差

設備采用靜態(tài)直流法搭配四端測試法，同一工位同步完成塞貝克系數(shù)、電阻率兩項關鍵參數(shù)測試，減少多次裝夾帶來的系統(tǒng)誤差，大幅提升實驗效率與數(shù)據可靠性。

二、靈活樣品夾持，多規(guī)格試樣兼容

搭載自研三明治樣品支架，探針間距支持 4/6/8mm 多檔位可調，可兼容圓柱、棱柱、圓盤等多種形狀塊狀試樣，樣品裝夾便捷，適配不同規(guī)格樣品測試需求。

三、寬溫域多氣氛環(huán)境，模擬真實環(huán)境工況

設備測試溫區(qū)覆蓋室溫至 1100℃，支持真空、惰性、氧化、還原多種氣氛環(huán)境調控，能夠復現(xiàn)材料真實環(huán)境工況，模擬多種高溫環(huán)境下的材料性能變化。

四、配套測控軟件，數(shù)據自動采集處理

配套華測儀器測試軟件，可自動完成信號激勵、數(shù)據采集、實時運算處理，實時輸出溫度 - 性能變化曲線，原始測試數(shù)據支持一鍵導出，方便科研人員開展后續(xù)數(shù)據分析與整理。

五、多領域應用場景，支撐新材料研發(fā)

該設備普遍適用于熱電轉換材料、半導體功能材料、高溫合金、導電高分子等多種材料體系，可滿足高校實驗室、科研院所與新材料企業(yè)在材料篩選、工藝優(yōu)化、性能驗證等方面的測試需求，為熱電新材料研發(fā)提供穩(wěn)定可靠的測試方案。