Huace-AT3000傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng)：多物理場(chǎng)傳感器性能測(cè)試平臺(tái)

Huace-AT3000 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng)，采用模塊化集成架構(gòu)，可按需靈活選配模塊，設(shè)備拓展性強(qiáng)。系統(tǒng)整合溫度、電阻、電容、壓電、電化學(xué)五大測(cè)試模塊，單臺(tái)設(shè)備便能實(shí)現(xiàn)多物理參數(shù)同步采集檢測(cè)，也支持各模塊單獨(dú)分項(xiàng)測(cè)試，兼顧綜合驗(yàn)證與單項(xiàng)標(biāo)定需求。

一、高性能指標(biāo)，捕捉多物理場(chǎng)動(dòng)態(tài)響應(yīng)

設(shè)備寬域測(cè)試性能優(yōu)異：控溫區(qū)間覆蓋-20℃~500℃，電流量程10pA~1A，測(cè)試頻率20Hz~10MHz，能夠準(zhǔn)確捕捉傳感器與功能器件在復(fù)雜多物理場(chǎng)耦合環(huán)境下的動(dòng)態(tài)響應(yīng)特性，還原器件真實(shí)工況下的性能變化。

二、40 通道高速并行采集，優(yōu)化批量測(cè)試效率

系統(tǒng)支持40 通道同步并行測(cè)試，通道切換速度可達(dá) 0.05s / 通道，大幅優(yōu)化多試樣批量測(cè)試效率，縮短研發(fā)與產(chǎn)線驗(yàn)證周期。配套華測(cè)儀器測(cè)試軟件，具備數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集、曲線可視化、自動(dòng)記錄、批量導(dǎo)出與數(shù)據(jù)分析功能，操作便捷，可快速完成測(cè)試方案搭建。

三、多場(chǎng)景適配，賦能傳感器器件流程測(cè)試

產(chǎn)品普遍應(yīng)用于 MEMS 傳感器、壓電元件、柔性電子器件、薄膜材料、電化學(xué)傳感等領(lǐng)域，可滿足材料基礎(chǔ)研究、器件研發(fā)驗(yàn)證、樣品可靠性評(píng)估、產(chǎn)線質(zhì)量篩查等不同階段測(cè)試需求，為傳感器及電子材料研發(fā)提供綜合測(cè)試解決方案。