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絕緣材料測試儀器

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HCJDCS-G工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀/華測儀器

更新時間：2024-08-26

型號：HCJDCS-G

瀏覽量：1893

工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀/華測儀器：主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。主要可以測量電容器、互感器、變壓器、絕緣紙、電容器薄膜等各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容量（ Cx），其測量線路采用“正接法”即測量對地絕緣的試品。
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HCJDCS-G工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀/北京華測

更新時間：2024-08-26

型號：HCJDCS-G

瀏覽量：1910

工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀/北京華測：主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。主要可以測量電容器、互感器、變壓器、絕緣紙、電容器薄膜等各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容量（ Cx），其測量線路采用“正接法”即測量對地絕緣的試品。
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HCJDCS-G工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀、北京華測*

更新時間：2024-08-26

型號：HCJDCS-G

瀏覽量：2014

工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀、北京華測*符合標(biāo)準(zhǔn)： GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法。
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HCJDCS-C高頻介損及介電常數(shù)測試儀、北京華測銷量*

更新時間：2023-08-29

型號：HCJDCS-C

瀏覽量：1748

高頻介損及介電常數(shù)測試儀、北京華測銷量*：高頻介損及介電常數(shù)測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。主要用于測量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號下的介損、介電常數(shù)。
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HCJDCS-B高頻介電常數(shù)測試儀、北京華測*

更新時間：2023-08-22

型號：HCJDCS-B

瀏覽量：2060

高頻介電常數(shù)測試儀、北京華測*：高頻介損及介電常數(shù)測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。主要用于測量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號下的介損、介電常數(shù)。
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HCJDCS-A抗震好、高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

更新時間：2023-08-22

型號：HCJDCS-A

瀏覽量：1812

抗震好、高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀: 高頻介損及介電常數(shù)測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。主要用于測量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號下的介損、介電常數(shù)。
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HCJDCS-A高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

更新時間：2023-08-22

型號：HCJDCS-A

瀏覽量：1812

高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。主要用于測量玻璃、陶瓷等材料在高頻信號下的介損、介電常數(shù)。
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Huace-991導(dǎo)電防靜電材料體積電阻率測試儀

更新時間：2025-07-29

型號：Huace-991

瀏覽量：2106

導(dǎo)電防靜電材料體積電阻率測試儀：在測量導(dǎo)電材料電阻率若采用三電極或二電極測量時會因?yàn)殡姌O與被測量材料表面電阻而影響測量準(zhǔn)確性，本裝置采用四電極（四點(diǎn)探針或四探針）法測量導(dǎo)電和防靜電材料體積電阻率，可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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