華測儀器SIR-450寬溫半導(dǎo)體絕緣性能測試設(shè)備

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SIR-450寬溫半導(dǎo)體絕緣性能測試設(shè)備由華測儀器生產(chǎn)，高低溫環(huán)境下的絕緣電阻測試技術(shù)用于預(yù)測EMC的HTRB性能。電介質(zhì)樣品暴露在高電場強(qiáng)度和高溫環(huán)境下，在這種情況下，高分子聚合物材料在高溫環(huán)境下具有負(fù)阻性的特征，電阻（率）隨著溫度的上升而下降，HTRB性能之間的相關(guān)性表明，隨著溫度的上升電阻率越下降嚴(yán)重，而HTRB性能越差，因此，材料的電阻率是HTRB失效測量的一個測量手段。

產(chǎn)品參數(shù)

1.溫度范圍：-100 ~ 350°C

2.控溫精度：0.5°C

3.升溫斜率：10℃/min（可設(shè)定）

4.電阻：1×10¹⁶Ω

5.電阻率：1×10³Ω ~ 1×10¹⁶Ω

6.輸入電壓：220V

7.樣品尺寸：φ ＜25mm，d ＜4mm

8.電極材料：黃銅

9.夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

10.絕緣材料：99氧化鋁陶瓷

11.測試功能：高低溫電阻率

華測儀器的業(yè)務(wù)涵蓋從單臺測試設(shè)備供應(yīng)到整體實驗室規(guī)劃建設(shè)的全過程。建設(shè)絕緣材料或功能材料電性能檢測實驗室，華測儀器可提供從方案設(shè)計到交付驗收的完整服務(wù)。