表面電位衰減測試系統(tǒng)：電介質(zhì)材料電荷陷阱特性準(zhǔn)確表征方案

華測儀器表面電位衰減測試系統(tǒng)，是用于電介質(zhì)材料靜電衰減特性表征的測試設(shè)備，可進(jìn)行材料表面電位的極化、監(jiān)測與數(shù)據(jù)分析，普遍應(yīng)用于 XLPE 交聯(lián)絕緣、電纜絕緣材料、功能薄膜等絕緣材料研發(fā)與性能評(píng)估。

系統(tǒng)搭載±30kV 高壓極化電源，電壓穩(wěn)定度≤0.1%/h，確保極化過程輸出電壓穩(wěn)定，減少測試擾動(dòng)；集成室溫至 160℃高準(zhǔn)度溫控平臺(tái)，控溫精度可達(dá) ±0.2℃，同時(shí)配備濕度可調(diào)電極箱體，能夠復(fù)現(xiàn)不同溫濕度耦合工況，模擬材料實(shí)際工況環(huán)境。設(shè)備電極間隙 0~100mm 連續(xù)可調(diào)，可靈活適配薄膜、片材等多種形態(tài)試樣。

配置 ±10kV 電位采集單元，擁有 1V 測量分辨率，5~20ms 高速響應(yīng)能力，準(zhǔn)確捕捉表面電位快速動(dòng)態(tài)變化過程。配套華測儀器測試軟件，可自動(dòng)采集、存儲(chǔ)測試數(shù)據(jù)，展示電位衰減曲線，并支持提取電荷陷阱分布等關(guān)鍵參數(shù)，為絕緣材料改性、老化機(jī)理研究、線纜材料配方優(yōu)化提供穩(wěn)定可靠的試驗(yàn)數(shù)據(jù)支撐。