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高壓直流電導測試系統(tǒng) 原位拉伸臺原位光學冷熱臺高溫油浴表面體積電阻率測試儀非接觸式靜電電壓表多功能任意波高壓薄膜極化裝置真空晶圓退火爐電阻分壓器高壓探頭低頻、變頻電壓擊穿試驗儀絕緣電阻測試系統(tǒng) 多通道電流矩陣模塊高壓功率放大器鐵電分析儀塞貝克系數電阻測試儀先進功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 儲能新材料電學綜合測試系統(tǒng) 半導體封裝材料真空探針臺空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱臺測試系統(tǒng) 50點耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗儀探針臺漏電起痕試驗儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)

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HCMP多通道介電電阻測試模塊

更新時間：2026-03-16

型號：HCMP

瀏覽量：636

華測儀器HCMP多通道介電電阻測試模塊主要用于評估材料的介電性能與電阻特性，可以搭載阻抗分析儀、高阻計等設備使用。
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HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數/電阻測試系統(tǒng)

更新時間：2026-03-12

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：883

華測儀器HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數/電阻測試系統(tǒng)該產品具有寬溫區(qū)覆蓋、高適應性、多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發(fā)、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。
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Huace離子遷移（CAF）評估系統(tǒng)

更新時間：2026-03-12

型號：Huace

瀏覽量：934

華測儀器離子遷移（CAF）評估系統(tǒng)離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。
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HC-RD-1100高溫塞貝克系數與電阻測試系統(tǒng)

更新時間：2026-03-11

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：824

華測儀器HC-RD-1100高溫塞貝克系數與電阻測試系統(tǒng)是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。
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HuaceSIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)

更新時間：2026-03-11

型號：Huace

瀏覽量：851

華測儀器SIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)是通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經過長時間的測試，觀察線路是否有瞬間短路的現象發(fā)生。
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HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數電阻測定儀

更新時間：2026-03-10

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：805

華測儀器HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數電阻測定儀用于測量半導體、方鈷礦等熱電材料的塞貝克系數與電導率，計算ZT值(熱電優(yōu)值)；評估材料在高溫(如1500°C)或特定環(huán)境(真空/還原氣氛)下的熱電轉換效率。
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HC-RD-1100塞貝克系數與電阻率測試儀

更新時間：2026-03-10

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：896

華測儀器HC-RD-1100塞貝克系數與電阻率測試儀是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。
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HC-RD-1100Seebeck系數及電導率測試儀

更新時間：2026-03-09

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：810

華測儀器HC-RD-1100 Seebeck系數及電導率測試儀該產品具有寬溫區(qū)覆蓋、高適應性、多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發(fā)、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。
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