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多通道電流矩陣模塊高壓功率放大器鐵電分析儀塞貝克系數(shù)電阻測試儀先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置高低溫冷熱臺測試系統(tǒng) 絕緣電阻率測試儀 50點(diǎn)耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)

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Huace FE-2000北京華測鐵電壓電分析儀、鐵電測試儀器

更新時(shí)間：2025-01-14

型號：Huace FE-2000

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北京華測鐵電壓電分析儀、鐵電測試儀器由華測儀器多位工程師多年開發(fā)，其具有測試功能，設(shè)備測試頻率可達(dá)1MHz，40M的高速采樣速度。測試功能上也增加了介電溫譜、電卡測試、TSDC、電阻等測量功能。它能夠在不同測量條件和測量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測量。
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沖電聲法交直流場下的空間電荷測量系統(tǒng)

更新時(shí)間：2025-09-15

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沖電聲法交直流場下的空間電荷測量系統(tǒng)，空間電荷的存在是導(dǎo)致高壓直流聚合物電纜過早失效的主要原因，而且也是防止此類電纜快速劣化的主要原因。而且已經(jīng)表明可以通過空間電荷測量來診斷在使用應(yīng)力下的絕緣劣化。
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電容器溫度/電介質(zhì)特性評估系統(tǒng)

更新時(shí)間：2025-09-09

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電容器溫度/電介質(zhì)特性評估系統(tǒng)，是將環(huán)境試驗(yàn)箱與測量和評估系統(tǒng)相結(jié)合，高效采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道系統(tǒng)。自動(dòng)記錄電容器的溫度和頻率特性。
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HCCT-40HMLCC電容器溫度特性測試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2025-09-15

型號：HCCT-40H

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MLCC電容器溫度特性測試系統(tǒng) 通過模擬電容器在實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的各種溫度條件，測量并記錄電容器的關(guān)鍵參數(shù)（如電容值、損耗角正切值等）隨溫度的變化情況。這些數(shù)據(jù)對于評估電容器的溫度穩(wěn)定性、預(yù)測其使用壽命以及優(yōu)化電路設(shè)計(jì)具有重要意義。
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儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/熱釋電測試

更新時(shí)間：2025-09-29

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儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/熱釋電測試，可進(jìn)行電壓擊穿（介電場強(qiáng)）、高低頻介電頻譜、溫譜、高溫絕緣電阻、熱釋電測試、TSDC熱刺激極化電流、充放電儲能密度測試、電聲脈沖法空間電荷測量、靜電電壓等。
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華測鐵電分析儀/變溫鐵電測試盒

更新時(shí)間：2025-07-29

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華測鐵電分析儀/變溫鐵電測試盒，鐵電材料參數(shù)測試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性測量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性，可準(zhǔn)確地測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測鐵電體材料的電滯回線及IV特性。
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儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/高溫絕緣電阻

更新時(shí)間：2025-07-24

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儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/介電場強(qiáng)，可進(jìn)行電壓擊穿（介電場強(qiáng)）、高低頻介電頻譜、溫譜、高溫絕緣電阻、熱釋電測試、TSDC熱刺激極化電流、充放電儲能密度測試、電聲脈沖法空間電荷測量、靜電電壓等。儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/高溫絕緣電阻
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儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/介電場強(qiáng)

更新時(shí)間：2025-09-17

型號：

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儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/介電場強(qiáng)，可進(jìn)行電壓擊穿（介電場強(qiáng)）、高低頻介電頻譜、溫譜、高溫絕緣電阻、熱釋電測試、TSDC熱刺激極化電流、充放電儲能密度測試、電聲脈沖法空間電荷測量、靜電電壓等。
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