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產品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
華測儀器HCCT-40H多通道電容器溫度特性測試系統
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師
HCCT-40H多通道電容器溫度特性測試系統由華測儀器生產，系統可根據被測物型號、通道數定制對應測試線，通過軟件校準減小線纜帶來的測量誤差，完成陣元電容準確測量。
性能指標需求
測量性能
電容測量范圍：1pF~1μF
測量準度：± 0.3%
測試頻率：固定 1kHz
測試電平：0.1V~0.3V
測量模式：Cp并聯電容模式，適配電容測量特性
設備穩定性
連續工作穩定性：設備開機預熱 30min 后，重復測量同一標準電容，測量誤差≤±0.2%；對同一被測物連續測試 100 次，數據重復誤差≤±0.3%；
環境適應性：環境溫度 20±5℃、相對濕度 40%~60% 且無強電磁干擾時，設備可穩定運行，測量數據無顯著漂移；
接口與適配性
測試線接口：按被測物型號定制，適配線陣、凸陣、相控陣等常見接口，接觸可靠，插拔順暢；
測試板接口：預留通用對接接口，支持64/80/128通道測試線切換；
通信接口：測試板通過 USB 與上位機通信，數據傳輸穩定無丟包；軟件兼容 Windows10 及以上操作系統；
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