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客戶來訪｜企業(yè)技術團隊蒞臨華測儀器實驗室開展低壓漏電起痕測試發(fā)布時間：2026-09-18

客戶來訪｜企業(yè)技術團隊蒞臨華測儀器實驗室開展低壓漏電起痕測試近日，行業(yè)企業(yè)技術團隊蒞臨華測儀器實驗室，開展固體絕緣材料低壓漏電起痕測試，測定材料CTI相比電痕化指數(shù)與PTI耐電痕化指數(shù)，獲取絕緣材料耐電痕老化關鍵試驗數(shù)據(jù)，為產品材料選型、配方迭代以及安規(guī)認證提供數(shù)據(jù)支撐。一、漏電...

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2021
12-28

電弱點測試儀符合標準介紹
電弱點測試儀試驗電壓是0－20kV交直流電壓，其波動為±1%。電弱點測試儀在試樣弱點擊穿后約0.1s內使電壓回升到原來設定的電壓。銅輥為下電極，導電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動。遇弱點時擊穿，擊穿點自動累積計數(shù)。膜移動以平方數(shù)自動計數(shù)。電弱點測試儀是根...
2021
12-22

電弱點測試儀的試驗電壓是多少？
電弱點測試儀是根據(jù)GB/T13542-92、IEC60674-2:1988電氣用塑料薄膜標準要求設計的高壓試驗裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙烯薄膜等絕緣材料早給定直流電壓下每平方的擊穿點數(shù)。本機采用計算機控制，可對實驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速、采集、處理，并可存取...
2021
11-24

高溫四探針測試儀提高了薄膜電阻和體電阻率測量精度
高溫四探針測試儀可以實現(xiàn)高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其他導電薄膜的方塊電阻。高溫四探針測試儀是測量電阻率的一種方法，測量電阻率的方法很多，如三探針法、電容-電壓法、擴展電阻法等，四探...
2021
11-8

熱釋電系數(shù)測試儀的應用
熱釋電系數(shù)測試儀是利用紅外線來進行數(shù)據(jù)處理的一種儀器。主要是由一種高熱電系數(shù)的材料，如鋯鈦酸鉛系陶瓷、鉭酸鋰、硫酸三甘鈦等制成探測元件。人體都有恒定的體溫，一般在37度，所以會發(fā)出特定波長10UM左右的紅外線，被動式紅外探頭就是靠探測人體發(fā)射的10UM左右的紅外線而進行工作的。人...
2021
10-22

高溫絕緣電阻測試儀的使用和注意事項
高溫絕緣電阻測試儀采用開發(fā)電子保護系統(tǒng)，提高了設備的性；選用熱電偶保定溫度的采集有效值、高溫絕緣電阻測試儀采用的SPWM電子升壓技術，電壓輸出穩(wěn)定性好。配備電壓、電流傳感器以保證試驗數(shù)據(jù)的有效性。高溫絕緣電阻測試儀使用注意事項：1、絕緣電阻表的發(fā)電機電壓等級應與被測物的耐壓水平相...
2021
9-23

電弱點測試儀安不？
電弱點測試儀通過人機對話方式可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速、采集、處理，并可存取、顯示、打印。電弱點測試儀是根據(jù)IEC60674-2：2009電氣用塑料薄膜第2部分：試驗方法及其第1次修正（2001）和GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗方法》而設計的高壓試驗裝置。主要...

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