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HC-RD-1100Seebeck 系數電阻測試儀

更新時間：2026-03-17

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：249

華測儀器HC-RD-1100Seebeck 系數電阻測試儀可自動完成信號激勵、數據采集、實時處理及結果輸出全流程，并通過可視化界面直觀呈現測試成果，提升了操作便捷性與測試效率。
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Huace多通道絕緣電阻測試系統

更新時間：2026-03-17

型號：Huace

瀏覽量：297

華測儀器多通道絕緣電阻測試系統是一款用于評估電子材料與元器件絕緣可靠性的信賴性試驗設備，是用于捕捉高溫、高濕、電場等復雜環境下，材料及元器件因離子遷移引發的絕緣電阻劣化過程。
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HCMP多通道介電電阻測試模塊

更新時間：2026-03-16

型號：HCMP

瀏覽量：231

華測儀器HCMP多通道介電電阻測試模塊主要用于評估材料的介電性能與電阻特性，可以搭載阻抗分析儀、高阻計等設備使用。
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HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數/電阻測試系統

更新時間：2026-03-12

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：323

華測儀器HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數/電阻測試系統該產品具有寬溫區覆蓋、高適應性、多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。
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Huace離子遷移（CAF）評估系統

更新時間：2026-03-12

型號：Huace

瀏覽量：270

華測儀器離子遷移（CAF）評估系統離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。
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HC-RD-1100高溫塞貝克系數與電阻測試系統

更新時間：2026-03-11

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：270

華測儀器HC-RD-1100高溫塞貝克系數與電阻測試系統是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。
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HuaceSIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統

更新時間：2026-03-11

型號：Huace

瀏覽量：282

華測儀器SIR絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統是通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經過長時間的測試，觀察線路是否有瞬間短路的現象發生。
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HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數電阻測定儀

更新時間：2026-03-10

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：283

華測儀器HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數電阻測定儀用于測量半導體、方鈷礦等熱電材料的塞貝克系數與電導率，計算ZT值(熱電優值)；評估材料在高溫(如1500°C)或特定環境(真空/還原氣氛)下的熱電轉換效率。
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